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创新技术带来的进步

SIKORA 推出了PURITY SCANNER。这是一个令人印象深刻的检测系统,它智能化的结合了 X 射线测量系统与光学检测系统的优势,并且在对颗粒进行杂质检测的同时能自动筛除含杂质的颗粒。该系统运用的传送技术也是创新式的,它采用了不锈钢的震动坡道。这样的设计带来的好处是该系统是完全无磨损的,并且在长时间的使用过程中无需进行维护。

独特的原理

在该检测系统中,不仅采用的 X 射线检测技术是独特的,而且光学系统的性能也是独特的并且优于市场上现有的解决方案。PURITY SCANNER 的设计目标是对使用的原材料进行 100% 的检测。

最高的检测精度,即使是对于不透明的颗粒

特别是对于品质要求严苛的应用领域来说,原材料的洁净度是至关重要的,因为每一个微小的杂质都会是一个巨大的隐患。

从外到内,无污染

在检测的过程中,颗粒都在一个密闭的通道中运行。被检测的材料不会跟环境空气发生接触,进而确保了检测环境的洁净。

检测均匀度

在复合材料的生产过程中,混合的均匀度是十分重要的。对于均匀度的检测是 PURITY SCANNER 优势的另一个体现,通过X射线检测技术可以将不均匀性可视化。

 

产品优势

  • X 射线技术与光学技术相结合,自动筛除杂质颗粒
  • 对有色的、黑色或透明颗粒进行杂质检测,最小可测到 50 µm 的杂质
  • 完美的材料传送方式
  • 检测分散性
  • 检出量从每小时数公斤至数吨*

技术参数

应用领域材料生产
复合物/母料
塑料生产
测量原理X 射线和光学检测
最小课检测杂质颗粒大小X-ray: 50 µm (cube 3D), 50 x 50 x 50 µm
Optics: 50 µm (square 2D), 50 x 50 µm
检出量检出量取决于被测材料的形状与比重,每台仪器的检出能力从每小时数公斤至一吨。
通过将数台仪器组合使用可以获得更高的检出量。
环境温度15 - 45°C
空气湿度最大 95%(无凝结)
通讯接口RS232, USB
Optional: industrial fieldbus standards such as Profinet IO, EtherNet/IP, Profibus-DP, DeviceNet, CANopen, LAN (Ethernet), OPC DA/UA
工作电源3 ph 400 V (± 10 %), 50/60 Hz (± 3 Hz), 2,700 VA
Compressed air supply: min 6 bar/max. 8 bar
Air quality class 3 (ISO 8573.1)
*该材料检出量为仅配备光学检测系统的情况。在结合了 X 射线和光学检测的情况下,设备检出量最高可达每小时 700 kg