此次Chinaplas 2017 广州展，SIKORA 将着重展出适用于管材、板材与塑料工业领域的创新型测量、控制、识别、分析与筛除系统。特别为您介绍两款新仪器：CENTERWAVE 6000 – 用于测量大规格管道的测控系统，和PLANOWAVE 6000 – 用于测量塑料板材厚度的测控系统。这两款仪器都在德国杜塞尔多夫举办的 2016 K 展上首次亮相。此次展会，SIKORA 的亮点是 PURITY SCANNER 与 PURITY CONCEPT 系统。PURITY SCANNER可对原材料颗粒进行完全的在线杂质检测和自动筛除，而 PURITY CONCEPT 系统则适用于颗粒、薄片以及薄膜/胶带的离线检测与分析。SIKORA “技术臻于完美”的宗旨，在其仪器中得以充分体现。
CENTERWAVE 6000: 应用毫米波技术来测量大规格管道
随着CENTERWAVE 6000的推出， SIKORA 在测量大规格管道上占有重要一席。该系统主要是应用创新的毫米波技术来测量大规格管（可检测外径范围为 110 – 3200 mm）的直径、椭圆度、壁厚以及料的下垂度。旋转测量头的采用使其能够在管道圆周进行完整的壁厚测量。此外，该设备还可选择多轴静态传感器系统进行管道壁厚的测量。这两种系统都属于非接触式测量方式，无需任何介质、不需要校准并且不受管道的材料与温度影响。“CENTERWAVE 6000是大规格管道持续在线测量的先锋，它为管线控制和质量控制设立了新标准，将完全取代过去所使用的超声波技术。”SIKORA中国总经理陈万彬说道。
CENTERWAVE 6000 适用于测量大规格管道外径（110 – 3200 mm）
PLANOWAVE 6000: 第二位毫米波技术家庭成员
相同于 CENTERWAVE 6000， PLANOWAVE 的检测手段也是基于先进的毫米波技术。PLANOWAVE 能够在挤出过程中对塑料板材进行持续扫描其宽度的同时精确测量它的厚度。“SIKORA 的PANOWAVE为板材生产的质量保证、工艺优化以及提高生产效率提供了一个强大的系统。”陈万彬总经理如是说道。
PLANOWAVE 6000 适用于测量挤出生产过程中的板材厚度
PURITY SCANNER:塑料颗粒在线杂质检测和自动筛除系统
SIKORA于橡塑展的另一亮点则是PURITY SCANNER – 用于塑料颗粒杂质的在线检测和自动筛除系统。该系统独创的 X 射线与光学检测相结合的技术，能够可靠地检测塑料颗粒表面及内部杂质并自动筛除。而最新的 PURITY SCANNER ADVANCED 系统是 SIKORA 研发的另一个用于在线检测与筛除塑料颗粒杂质的设备。该设备拥有灵活的成像系统专门针对于特殊应用领域的检测。根据要求， ADVANCED 型号设备配备光学高速成像系统以及 X 射线、彩色成像系统和红外成像系统。根据杂质的类型与应用领域的不同，系统最多可配备 5 个不同的成像系统进行检测。PURITY SCANNER 与 PURITY SCANNER ADVANCED 的应用确保了生产过程中生产材料的洁净度。
PURITY SCANNER 适用于检测并自动剔除塑料颗粒杂质（在线）
PURITY CONCEPT 系统: 适用于颗粒、薄片以及薄膜/胶带的检测与分析系统（离线）
针对材料数量较少和样品分析或材料进货检测的需求，SIKORA工程师们研发了 PURITY CONCEPT 系统。根据不同的需求，该系统可以配备 X 射线、光学成像或红外线技术对颗粒、薄片以及薄膜/胶带进行检测。例如，PURITY CONCEPT 系统可用于分析由 PURITY SCANNER 检测与筛除的杂质颗粒。“在线检测分析与离线检测分析的相互配合，为材料的绝对洁净提供了保证，制造商还可通过筛除杂质达到提升生产工艺的目的”，陈万彬总经理解释道。
PURITY CONCEPT 系统适用于颗粒、薄片以及薄膜/胶带的检测与分析（离线）
管材挤出线上的多元化测控技术
在管材挤出生产领域，SIKORA 不仅拥有创新的外径测量设备 LASER Series 2000/LASER Series 6000系列，还拥有 X 射线测量系统 X-RAY 6000系列。通过精确测量产品的内/外径、多达三层的壁厚、偏心以及椭圆度，SIKORA 设备在为制造商提供最佳品质保证的同时，也为制造商节省了材料消耗，提高了生产效率。
X-RAY 6000 适用于管材的内/外径、椭圆度、壁厚及偏心的测量与控制
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Wanbin Chen, President SIKORA China
