CENTERVIEW 8000
CENTERVIEW 8000是一款完全非接触式的在线偏心测量设备,对被测物体进行 8 点偏心、4 轴外径及 8 点椭圆度测量,具有高精度的单一测量值。该测量系统特别适用于同轴电缆、LAN 电缆、汽车线和安装线的生产线。
CENTERVIEW 8000 是一款完全非接触式的在线偏心测量设备,适用于所有圆形的单芯或绞合导体线缆以及多导体电缆,电缆的绝缘层可以是实心或发泡的。
CENTERVIEW 8000 在线对被测物体进行 8 点偏心、4 轴外径及 8 点椭圆度测量,具有高精度的单一测量值。在数据显示处理系统 ECOCONTROL 600、1000 或 6000 上,这些测量数值以 4 轴(直径、椭圆度)或 8 点(偏心)的方式进行显示。操作员可以快速清晰地获得用于控制或调整挤出机头的偏心数值信息,确保了达到最佳的材料节省。
对于一些应用程序,如手机,LED显示器及医用探测器,都需要使用到细小同轴电缆。这些电缆的导体直径为 25 μm,其绝缘材料壁厚为 80 μm。为确保高频信号的传输,这些电缆的规格都必须是准确的。
CENTERVIEW 8010有一个特殊的型号,用于测量外径达 0.05 mm (40 AWG) 的细小同轴电缆的偏心、外径和椭圆度。
测量原理 | 完全非接触式测量,采用 4 轴 CCD 阵列接收器与激光脉冲光源相结合的测量技术 |
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应用领域 | 适用于所有圆形单一导体的电线及具有单一或绞合导体的电缆,如电话线、数据电缆(CAT 5, 6 , 7)、同轴电缆、汽车线或安装线 |
曝光时间 | 0,25 µs |
检测频率 | 检测频率为每秒 500 次(其它可定制) |
测量范围 | 0.25 - 10 mm* |
显示范围 | 12.5 mm |
分辨率 | 可选 1 μm、10 μm (出厂设置为 1 μm) |
检测精度 | 偏心值:优于 ± 1.0 μm** 直径: ± 0.5 μm* |
复检精度 | 偏心值: ± 1.0 μm** 直径: ± 0.1 μm* |
通讯接口 | 标配:RS485、RS232 选配:Profibus-DP (CENTERVIEW 8000e为选配项),其它工业现场总线接口,如 Profinet IO、EtherNet/IP、CANopen、DeviceNet |
工作电源 | 115 或 230 V AC ± 10%, 50/60 Hz, 500 VA |
工作环境温度 | +5 - +50°C |
尺寸规格 (宽x高x深) | 200 x 150 x 1,106 mm |
* CENTERVIEW 8010 有一个特殊的型号,用于测量外径范围为 0.1 - 10 mm 的细小同轴电缆的偏心、外径和椭圆度。 ** 绞合导体: 2 μm |
测量原理 | 完全非接触式测量,采用 4 轴 CCD 阵列接收器与激光脉冲光源相结合的测量技术 |
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应用领域 | 适用于所有圆形单一导体的电线及具有单一或绞合导体的电缆,如电话线、数据电缆(CAT 5, 6 , 7)、同轴电缆、汽车线或安装线 |
曝光时间 | 0,25 µs |
检测频率 | 检测频率为每秒 500 次(其它可定制) |
测量范围 | 0.5 - 25 mm |
显示范围 | 28 mm |
分辨率 | 可选 0.1 μm、1 μm、10 μm (出厂设置为 1 μm) |
检测精度 | 偏心值:优于 ± 2.5 μm* 直径: ± 1.0 μm |
复检精度 | 偏心值: ± 2.0 μm 直径: ± 0.2 μm |
通讯接口 | 标配:RS485、RS232 选配:Profibus-DP (CENTERVIEW 8000e为选配项),其它工业现场总线接口,如 Profinet IO、EtherNet/IP、CANopen、DeviceNet |
工作电源 | 115 或 230 V AC ± 10%, 50/60 Hz, 500 VA |
工作环境温度 | +5 - +50°C |
尺寸规格 (宽x高x深) | 200 x 319 x 1,110.4 mm |
* 绞合导体: 5 μm |
CENTERVIEW 8000 用于外径为 0.1 – 25 mm 的产品,适用于所有的圆形单芯或绞合导体线缆,例如同轴电缆、LAN 电缆、汽车线和安装线。
该系统采用了电感测量的检测技术,通过判断每个传感器接收到的信号强度是否相等,从而控制电机实现对导体中心点位置的对中。
一方面,这样可以确保电感电路不受环境影响,同时实现2 个光学系统的 8 点测量。另一方面,在测量头进线和出线位置各有一个光学系统使其能够测量线缆的倾斜角度,以确保能够完美测量。
单一的偏心测量值不会影响电缆的品质,但持续波动的测量值却可以。云诊断程序上可以显示短时间内偏心测量值的分布状况:如出现椭圆状的云诊断分析图可能是由于导体抖动,或出现环状的云诊断分析图是由于导体旋转,这两者都会导致壁厚变化。