原材料和复合料的检测、分拣与分析
针对塑料的杂质检测，SIKORA 材料检测系统是您的最佳选择。该系统采用 X 射线与光学成像系统对塑料颗粒或薄片与其它再生颗粒等回收料里的杂质进行检测、分析及分拣。
此外，该系统不仅可以检测颗粒，还能检测已经加工过的产品，如薄膜、挤出与注塑部件，这是对 SIKORA 已经使用四十余年的各种技术的高标准综合应用。
对于复杂的应用领域，材料检测对于最终产品的质量起着至关重要的作用。用户对最终产品安全性、稳定性、抗断裂性、耐久性、外观和许多其它因素的 要求不断增加 ，而这 在很大程度上取决于原材料的洁净度。
- 薄膜挤出
- 医疗技术
- 半导体生产
- 航空和汽车制造领域
- 精密工具的塑料部件注塑模具
- 生产中压、高压以及超高压电缆
因此，对于聚合物、复合料与色母料制造商而言，对塑料材料的洁净度控制至关重要。在生产过程中， 需要使用高效的系统 检测聚合物，如聚乙烯、交联聚乙烯、聚丙烯、含氟聚合物以及其它材料（如 XLPE、PE、PP、TPU、PBT、FEP、PTFE、PVDF）。
塑料材料的在线检测与分拣
SIKORA 的 PURITY SCANNER ADVANCED 为塑料材料的在线检测与分拣树立了新的标准。该系统带有一个 X 射线成像系统，且最多可选择三个光学成像系统，因此， 可以保证材料在生产过程中进行 100% 的检测。
X 射线成像系统能够检测出颗粒或再生颗粒内部的金属杂质。光学成像系统可检测透明原材料内部、半透明或有色原材料表面上的污点、灼烧污点以及“黑点”。原材料的颜色偏差可通过彩色成像系统进行检测。最终将杂质颗粒自动剔除。
SIKORA 的这款设备结合了强大的处理器系统，确保对检测过程的 完整记录，可提供全面的统计学数据，实现良好的重现性并清晰呈现检测结果。
塑料材料的离线检测与分析
SIKORA 还推出了用于塑料材料、薄膜、挤出件与注塑件的自动离线检测与分析的 PURITY CONCEPT 系统，可用于生产过程中的抽样检测与来料检测。
将被检测材料置于样品盘上，该系统就可开始自动检测， 只需几秒钟 ，就能通过光标对样品盘上的杂质进行定位标记。系统会自动进行分析评估，并将杂质图像清晰地呈现在显示器上，得到具有可重复性的检测结果。
该系统采用 X 射线技术（PURITY CONCEPT X），对颗粒内部的杂质进行检测，或采用光学成像系统（PURITY CONCEPT V），对透明、半透明与彩色材料表面的杂质进行检测。根据杂质大小区分，并进行明确分类，便于后续 随时对塑料颗粒生产过程进行控制。
PURITY CONCEPT 系统 可以进行自动检测与分析，确保检测结果更加精确且重复性高，检测更为可靠，这是人工检测无法实现的。该系统对 自动控制产品质量、检测单一材料以及显著优化生产过程具有重要作用。
将自动分拣与抽样检测相结合
将 PURITY SCANNER ADVANCED 和 PURITY CONCEPT 系统组合运用 ，可以对塑料颗粒进行全面的检测与分析。在 PURITY SCANNER ADVANCED 在线 检测并自动剔除杂质颗粒后，杂质颗粒与洁净材料由 PURITY CONCEPT 系统（实验室样品检测）进行 离线 分析。通过在线与离线检测、分拣与分析的完美配合使用，可以 对材料的洁净度进行全面控制 ，并提供检测信息以避免杂质的产生。
SIKORA 材料检测系统的特点
- 保证材料质量
- 对次品进行优化处理
- 对再生颗粒及再造颗粒进行优化处理
- 优化生产流程，具有强有力的竞争优势
- 避免产品回收与用户索赔
