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Campaign – Make contaminants visible

Send us up to three material samples* free of charge until December 31st, 2018. We inspect your samples with the PURITY CONCEPT V and provide a detailed material analysis. One scan is enough to detect contamination, create images of the inspected materials and evaluate statistical information. More...

 
 

Design flexível e tecnologias fortes

Com os modelos inovadores dos Sistemas PURE CONCEPT SIKORA dá uma perspectiva sobre o potencial versátil de seus sistemas para inspeção off-line e análise do material plástico. Dependendo da aplicação, os sistemas estão equipados com tecnologia de raios X (X), tecnologia infravermelha (IR) ou sensores ópticos (V) para serem utilizados durante a produção ou para o teste de amostras e detectar contaminação a partir de 50 μm. Em relação às tecnologias integradas, a SIKORA conta com várias décadas de experiência no setor de cabos e tubulações.

Especificações

Princípio de Medição *PURITY CONCEPT X: X-ray technology
PURITY CONCEPT V: Optical CMOS Line Scan color camera
AplicaçãoPellets, flocos, filmes / fitas, folhas e peças moldadas por injeção
Contaminação DetectávelPURITY CONCEPT X: metallic, inhomogeneities, cross-contamination
PURITY CONCEPT V: Contaminação e material transparente em preto, respectivamente, em material não transparente e descolorações
Menor tamanho de contaminação detectávelX-ray: 50 μm (cube 3D), 50 x 50 x 50 μm
Optics: 50 μm (square 2D), 50 x 50 μm
Temperatura Ambiental Permissível / Temperatura da PelotaPURITY CONCEPT X: + 5 – + 40 °C
PURITY CONCEPT V: + 5 – + 45 °C
InterfacesUSB
Optional: LAN
Fonte de energiaPURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternatively 110 V AC) ± 10 %, 50/60 Hz, 1600 VA
PURITY CONCEPT V: 230 V AC ± 10 %, 50/60 Hz, ca. 1.200 W
DimensõesPURITY CONCEPT X: 1,483 x 1,300 x 750 mm
PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 911 mm
(width x height x depth)