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Campaign – Make contaminants visible

Send us up to three material samples* free of charge until December 31st, 2018. We inspect your samples with the PURITY CONCEPT V and provide a detailed material analysis. One scan is enough to detect contamination, create images of the inspected materials and evaluate statistical information. More...

 
 

灵动的设计与强大技术力量相结合

根据不同的应用需求,PURITY CONCEPT 系统可以配备X射线或光学传感技术,分别应用于生产过程中或者样品检测,并且该系统可以检测出50 µm以上的杂质。PURITY CONCEPT 系统结合了西科拉公司数十年来在线缆和管材行业的技术积累。

技术参数

检测原理 *PURITY CONCEPT X: X 射线检测
PURITY CONCEPT V: 光学CMOS线阵扫描彩色相机
应用领域颗粒、薄片、薄膜/胶带,板材和注塑部件
可检测的杂质PURITY CONCEPT X: 金属杂质、 不均一杂质、交叉污染的杂质
PURITY CONCEPT V: 在透明材料中的杂质及黑点,以及在非透明材料表面的黑点和变色杂质
最小可检测杂质颗粒大小X 射线检测: 50 μm (立方体 3D), 50 x 50 x 50 μm
光学检测: 50 μm (平面 2D), 50 x 50 μm
工作环境温度范围PURITY CONCEPT X: + 5 – + 40 °C
PURITY CONCEPT V: + 5 – + 45 °C
通讯接口USB
选配:LAN
工作电源PURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternatively 110 V AC) ± 10 %, 50/60 Hz, 1600 VA
PURITY CONCEPT V: 230 V AC ± 10 %, 50/60 Hz, ca. 1.200 W
规格尺寸PURITY CONCEPT X: 1,483 x 1,300 x 750 mm
PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 911 mm ( 宽度 x 高度 x 厚度 )