PURITY SCANNER ADVANCED

Dzięki przełomowym modelom systemów PURITY CONCEPT SIKORA daje pogląd na wszechstronny potencjał swoich systemów do inspekcji offline i analizy tworzyw sztucznych. W zależności od zastosowania systemy są wyposażone w technologię rentgenowską (X) lub czujniki optyczne (V) do wykorzystania podczas produkcji lub do badania próbek i wykrywania zanieczyszczeń już od 50 µm. Jeśli chodzi o zintegrowane technologie, SIKORA czerpie z kilkudziesięcioletniego doświadczenia w branży kabli oraz przewodów i rur.
PURITY CONCEPT X opiera się na technologii rentgenowskiej i wykrywa i analizuje na przykład zanieczyszczenia metaliczne wewnątrz nieprzezroczystych granulek i płatków. Dzięki modułowej koncepcji konstrukcyjnej można również kontrolować kolorowe folie i taśmy.
PURITY CONCEPT V opiera się na czujnikach optycznych i wykrywa oraz analizuje zanieczyszczenia lub defekty, takie jak „czarne plamki” lub żółte przebarwienia na przezroczystych peletkach i płatkach. Dzięki modułowej koncepcji konstrukcyjnej można również kontrolować przezroczyste folie i taśmy.
Zasada pomiaru* | PURITY CONCEPT X: Technologia rentgenowska PURITY CONCEPT V: Kolorowa kamera z optycznym skanowaniem liniowym CMOS |
---|---|
Zastosowanie | Pelety, płatki, folie/taśmy, arkusze i części formowane wtryskowo |
Wykrywalne zanieczyszczenie | PURITY CONCEPT X: metaliczne, niejednorodne,
zanieczyszczenia krzyżowe PURITY CONCEPT V: wtrącenia i czarne plamki odpowiednio w przezroczystym materiale na powierzchni rozproszonego i kolorowego materiału |
Najmniejszy wykrywalny rozmiar zanieczyszczenia | X-ray: 50 μm (sześcian 3D), 50 x 50 x 50 μm Optical: 50 μm (kwadrat 2D), 50 x 50 μm |
Dopuszczalna temperatura otoczenia/temperatura pelletu | + 10 to + 40 °C |
Interfejsy | USB Opcjonalnie: LAN |
Zasilanie | PURITY CONCEPT X: 230 V AC (lub 100 V AC lub 115 V AC) ± 10%, 50/60 Hz PURITY CONCEPT V: 100 - 240 V AC ± 10 %, 50/60 Hz |
Wymiary | PURITY CONCEPT X: 1,309 x 831 x 1,882 mm
PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 921 mm (szerokość x wysokość x głębokość) |