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Campaign – Make contaminants visible

Send us up to three material samples* free of charge until December 31st, 2018. We inspect your samples with the PURITY CONCEPT V and provide a detailed material analysis. One scan is enough to detect contamination, create images of the inspected materials and evaluate statistical information. More...

 
 

Design flessibile e tecnologie convincenti

Attraverso i modelli innovativi dei sistemi PURITY CONCEPT, SIKORA dà una prospettiva sul potenziale versatile dei suoi sistemi per il controllo offline e l'analisi del materiale plastico.In funzione all’applicazione, i sistemi sono dotati di tecnologia a raggi X (X) o sensori ottici (V) che vengono utilizzati durante la produzione oppure per testare campioni e per rilevare contaminazioni a partire da 50 µm. Per quanto riguarda le tecnologie integrate, SIKORA attinge a varie decadi di esperienza nell'industria del cavo e del tubo e tubazioni.

Specifiche tecniche

Principio di misurazione*PURITY CONCEPT X: tecnologia a raggi X
PURITY CONCEPT V: telecamera ottica a colori con sensori CMOS Line Scan
ApplicazioneGranuli, fiocchi, film/nastri, lastre e pezzi stampati ad iniezione
Contaminazione rilevabilePURITY CONCEPT X: metallica, disomogeneità, granuli estranei
PURITY CONCEPT V: contaminazioni e punti neri sia in materiale trasparente che non trasparente e scolorimenti
Dimensione minima di una contaminazione rilevabileRaggi x: 50 μm (cubo 3D), 50 x 50 x 50 μm
Ottica: 50 μm (quadrato 2D), 50 x 50 μm
Temperatura ambiente ammessa/Temperatura del granuloPURITY CONCEPT X: + 5 – + 40 °C
PURITY CONCEPT V: + 5 – + 45 °C
InterfacceUSB
Su richiesta: LAN
AlimentazionePURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternatively 110 V AC) ± 10 %, 50/60 Hz, 1600 VA
PURITY CONCEPT V: 230 V AC ± 10 %, 50/60 Hz, ca. 1.200 W
DimensioniPURITY CONCEPT X: 1.483 x 1.300 x 750 mm
PURITY CONCEPT V: 1.090 x 575 x 911 mm
(larghezza x altezza x profondità)