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Diseños flexibles y tecnologías sólidas.

Con los modelos innovadores del sistema PURITY CONCEPT, SIKORA nos permite ver la versatilidad y el gran potencial de sus sistemas de inspección y análisis de materiales plásticos fuera de la línea. Dependiendo de la aplicación, los sistemas son equipados con tecnología de rayos X (X), tecnología infrarroja (IR) o sensores ópticos (V) para ser usados durante la producción o para realizar un muestreo y detectar contaminantes a partir de 50 micras. Respecto a las tecnologías que se integran en SIKORA, estas tienen un respaldo con varias décadas de experiencia en la industria de los cables así como de las mangueras y tubos.

Especificaciones

Principio de medición*PURITY CONCEPT X: Tecnología de rayos X
PURITY CONCEPT V: Cámara de color óptica en línea de lectura CMOS
Aplicación Pellets, hojuelas, películas / cintas, hojas y piezas moldeadas por inyección
Contaminación detectablePURITY CONCEPT X: contaminantes metálicos, inhomogeneidades, cross-contamination
PURITY CONCEPT V: contaminación y partículas obscuras en material transparente y no transparente, decoloraciones
Tamaño mínimo detectable del contaminanteRayos X: 50 μm (cubo 3D), 50 x 50 x 50 μm
Óptico: 50 μm (cuadrado 2D), 50 x 50 μm
Temperatura ambiental permitida / temperatura de pelletPURITY CONCEPT X: + 5 – + 40 °C
PURITY CONCEPT V: + 5 – + 45 °C
InterfacesUSB
Opcional: LAN
Fuente de alimentaciónPURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternativamente 110 V AC) ± 10 %, 50/60 Hz, 1600 VA
PURITY CONCEPT V: 230 V AC ± 10 %, 50/60 Hz, ca. 1.200 W
DimensionesPURITY CONCEPT X: 1,340 x 1,297 x 758 mm (sin rodamientos)
PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 911 mm (Ancho x altura x profundidad)