画期的なPURITY CONCEPT Systems をもってSIKORAは、樹脂材料のオフライン検査及び分析システムへ多用な可能性の展望をご提供しています。アプリケーションに応じてシステムはエックス線技術(X)、または光学センサー(V)を搭載しており、製造工程またはサンプル検査に適用可能で、50 µmからの異物を検知します。SIKORAでは、数十年に渡るケーブルやホース・チューブ業界における経験を本システムの技術に応用しています。
PURITY CONCEPT Xはエックス線技術に基づき、透明、不透明、黒色ペレットとフレーク内の異物や欠陥を検知して分析します。モジュラー設計構想のため、有色フィルムやテープも検査することが可能です。
PURITY CONCEPT Vは光学センサーに基づき、異物や”黒点”のような欠陥、または透明ペレットやフレークの黄色い変色などを検知して分析します。モジュラー設計構想のため、透明フィルムやテープも検査することが可能です。
| 測定原理 | PURITY CONCEPT X: X線技術 PURITY CONCEPT V: 光学式 CMOS ライン・スキャン・カラー・カメラ |
|---|---|
| アプリケーション | ペレット、フレーク、フィルム／テープ、シート、射出成型部品 |
| 検知可能異物 | PURITY CONCEPT X: 金属、不均一性、クロスコンタミネーション PURITY CONCEPT V: 透明材料の中及び非透明材料の表面の異物と黒点及び変色 |
| 検知可能最小異物サイズ | X線: 50 μm (cube 3D), 50 x 50 x 50 μm 光学式: 50 μm (square 2D), 50 x 50 μm |
| 許容環境温度／ペレット温度 | +10 ～ +40°C |
| インターフェース | USB オプション: LAN |
| 電源 | PURITY CONCEPT X: 230 V AC （もしくは100 V ACまたは115 V AC) ± 10%, 50/60 Hz PURITY CONCEPT V: 100 - 240 V AC ± 10 %, 50/60 Hz |
| 寸法 | PURITY CONCEPT X: 1,309 x 831 x 1,882 mm PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 921 mm (W x H x D) |
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