本サイト: Home: ホーム / Produkte / PURITY CONCEPT Systems

柔軟性のあるデザインと優秀な技術

画期的なPURITY CONCEPT Systems をもってSIKORAは、樹脂材料のオフライン検査及び分析システムへ多用な可能性の展望をご提供しています。アプリケーションに応じてシステムはエックス線技術(X)、赤外線技術(IR)または光学センサー(V)を搭載しており、製造工程またはサンプル検査に適用可能で、50 µmからの異物を検出します。SIKORAでは、数十年に渡るケーブルやホース・チューブ業界における経験を本システムの技術に応用しています。

仕様

測定原理PURITY CONCEPT X: X線技術
PURITY CONCEPT V: 光学式 CMOS ライン・スキャン・カラー・カメラ
アプリケーションペレット、フレーク、フィルム/テープ、シート、射出成型部品
検知可能異物PURITY CONCEPT X: 金属、不均一性、クロスコンタミネーション
PURITY CONCEPT V: 透明材料の中及び非透明材料の表面の異物と黒点及び変色
検知可能最小異物サイズX線: 50 μm (cube 3D), 50 x 50 x 50 μm
光学式: 50 μm (square 2D), 50 x 50 μm
許容環境温度/ペレット温度PURITY CONCEPT X: +0 ~ +40 °C
PURITY CONCEPT V: + 5 ~ + 45 °C
インターフェースUSB
オプション: LAN
電源PURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternatively 110 V AC) ± 10 %, 50/60 Hz, 1600 VA
PURITY CONCEPT V: 230 V AC ± 10 %, 50/60 Hz, ca. 1.200 W
寸法PURITY CONCEPT X: 1,340 x 1,297 x 758 mm (ホイール除く)
PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 911 mm
(W x H x D)