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Inspection et analyse de granules, flocons et films/bandes

Design flexible et technologies robustes

Avec les modèles révolutionnaires des systèmes PURITY CONCEPT, SIKORA donne un aperçu du potentiel de ses systèmes destinés à l'inspection et l'analyse hors ligne de la matière plastique. Selon l'application, les systèmes sont équipés d'une technologie à rayons X (X), d'une technologie infrarouge (IR) ou de capteurs optiques (V), utilisée pendant la production ou pour l'analyse d'échantillons et la détection d'impuretés à partir de 50 µm. Concernant les technologies intégrées, SIKORA s'appuie sur plusieurs décennies d'expérience dans l'industrie des câbles, des flexibles et des tubes.

Spécifications

Measuring Principle*PURITY CONCEPT X: X-ray technology
PURITY CONCEPT V: Optical CMOS Line Scan color camera
ApplicationPellets, flakes, films/tapes, sheets and injection moulded parts
Detectable ContaminationPURITY CONCEPT X: metallic, inhomogeneities, cross-contamination
PURITY CONCEPT V: contamination and black specks in transparent material, respectively, on the surface of diffuse and colored material
Smallest Detectable Contamination SizeX-ray: 50 μm (cube 3D), 50 x 50 x 50 μm
Optics: 50 μm (square 2D), 50 x 50 μm
Permissible Environmental Temperature/Pellet Temperature+10 – + 40 °C
InterfacesUSB
Optional: LAN
Power SupplyPURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternatively 110 V AC) ± 10 %, 50/60 Hz, 1600 VA
PURITY CONCEPT V: 230 V AC ± 10 %, 50/60 Hz, ca. 1.200 W
Dimensions PURITY CONCEPT X: 1,309 x 831 x 1,882 mm
PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 921 mm
(width x height x depth)