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Campaign – Make contaminants visible

Send us up to three material samples* free of charge until December 31st, 2018. We inspect your samples with the PURITY CONCEPT V and provide a detailed material analysis. One scan is enough to detect contamination, create images of the inspected materials and evaluate statistical information. More...

 
 

Design flexible et technologies robustes

Avec les modèles révolutionnaires des systèmes PURITY CONCEPT, SIKORA donne un aperçu du potentiel de ses systèmes destinés à l'inspection et l'analyse hors ligne de la matière plastique. Selon l'application, les systèmes sont équipés d'une technologie à rayons X (X), d'une technologie infrarouge (IR) ou de capteurs optiques (V), utilisée pendant la production ou pour l'analyse d'échantillons et la détection d'impuretés à partir de 50 µm. Concernant les technologies intégrées, SIKORA s'appuie sur plusieurs décennies d'expérience dans l'industrie des câbles, des flexibles et des tubes.

Spécifications

Measuring Principle*PURITY CONCEPT X: X-ray technology
PURITY CONCEPT V: Optical CMOS Line Scan color camera
ApplicationPellets, flakes, films/tapes, sheets and injection moulded parts
Detectable ContaminationPURITY CONCEPT X: metallic, inhomogeneities, cross-contamination
PURITY CONCEPT V: contamination and black specks in transparent material, respectively, on the surface of diffuse and colored material
Smallest Detectable Contamination SizeX-ray: 50 μm (cube 3D), 50 x 50 x 50 μm
Optics: 50 μm (square 2D), 50 x 50 μm
Permissible Environmental Temperature/Pellet TemperaturePURITY CONCEPT X: + 5 – + 40 °C
PURITY CONCEPT V: + 5 – + 45 °C
InterfacesUSB
Optional: LAN
Power SupplyPURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternatively 110 V AC) ± 10 %, 50/60 Hz, 1600 VA
PURITY CONCEPT V: 230 V AC ± 10 %, 50/60 Hz, ca. 1.200 W
Dimensions PURITY CONCEPT X: 1,483 x 1,300 x 750 mm
PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 911 mm
(width x height x depth)