Avec les modèles révolutionnaires des systèmes PURITY CONCEPT, SIKORA donne un aperçu du potentiel de ses systèmes destinés à l'inspection et l'analyse hors ligne de la matière plastique. Selon l'application, les systèmes sont équipés d'une technologie à rayons X (X), d'une technologie infrarouge (IR) ou de capteurs optiques (V), utilisée pendant la production ou pour l'analyse d'échantillons et la détection d'impuretés à partir de 50 µm. Concernant les technologies intégrées, SIKORA s'appuie sur plusieurs décennies d'expérience dans l'industrie des câbles, des flexibles et des tubes.
PURITY CONCEPT X est basé sur la technologie à rayons X et détecte et analyse la contamination ou les défauts dans des granules et flocons transparents, opaques ou noirs. Grâce au concept modulaire, les films et les bandes peuvent également être inspectés.
PURITY CONCEPT V est basé sur les capteurs optiques et détecte et analyse la contamination ou les défauts dans des granules et flocons transparents ou opaques. Grâce au concept modulaire, les films et les bandes peuvent également être inspectés.
| Measuring Principle* | PURITY CONCEPT X: X-ray technology PURITY CONCEPT V: Optical CMOS Line Scan color camera |
|---|---|
| Application | Pellets, flakes, films/tapes, sheets and injection moulded parts |
| Detectable Contamination | PURITY CONCEPT X: metallic, inhomogeneities,
cross-contamination PURITY CONCEPT V: contamination and black specks in transparent material, respectively, on the surface of diffuse and colored material |
| Smallest Detectable Contamination Size | X-ray: 50 μm (cube 3D), 50 x 50 x 50 μm Optics: 50 μm (square 2D), 50 x 50 μm |
| Permissible Environmental Temperature/Pellet Temperature | +10 – + 40 °C |
| Interfaces | USB Optional: LAN |
| Power Supply | PURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternativ 100 V AC oder 115 V AC) ± 10%, 50/60 Hz PURITY CONCEPT V: 100 - 240 V AC ± 10 %, 50/60 Hz |
| Dimensions | PURITY CONCEPT X: 1,309 x 831 x 1,882 mm
PURITY CONCEPT V: 1,090 x 575 x 921 mm (width x height x depth) |
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