Avec les modèles révolutionnaires des systèmes PURITY CONCEPT, SIKORA donne un aperçu du potentiel de ses systèmes destinés à l'inspection et l'analyse en et hors ligne de la matière plastique. Selon l'application, les systèmes sont équipés d'une technologie à rayons X (X), d'une technologie infrarouge (IR) ou de capteurs optiques (V), utilisée pendant la production ou pour l'analyse d'échantillons et la détection d'impuretés à partir de 50 µm. Concernant les technologies intégrées, SIKORA s'appuie sur plusieurs décennies d'expérience dans l'industrie des câbles, des flexibles et des tubes.
PURITY CONCEPT X est basé sur la technologie à rayons X et détecte et analyse la contamination ou les défauts dans des granules et flocons transparents, opaques ou noirs. Grâce au concept modulaire, les films et les bandes peuvent également être inspectés.
PURITY CONCEPT V est basé sur les capteurs optiques et détecte et analyse la contamination ou les défauts dans des granules et flocons transparents ou opaques. Grâce au concept modulaire, les films et les bandes peuvent également être inspectés.
PURITY CONCEPT IR est basé sur la technologie infrarouge et détecte et analyse la contamination métallique ou les défauts dans des granules et flocons transparents, opaques ou noirs. Grâce au concept modulaire, les films et les bandes peuvent également être inspectés.
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