Вы находитесь на странице: Домашняя страница / Produkte / PURITY CONCEPT Systems

Контроль и анализ гранул, хлопьев и пленок/лент

Гибкий дизайн и высокоточные технологии

Предлагая инновационные модели систем PURITY CONCEPT
компания SIKORA акцентирует взгляд на различном потенциале и универсальности ее систем для контроля и
анализа пластмассового сырья в режиме offline. В за-
висимости от области применения системы могут быть оснащены технологией на базе рентгеновского излучения (X) или оптических датчиков
(V), и использоваться для контроля образцов в
процессе производства и обнаружения загрязнений от 50мкм. Применяя вышеперечисленные технологии, компания
SIKORA опирается на многолетний опыт в изучении требований, предъявляемых производителями кабелей, а также
шлангов и труб.

Спецификации

Принцип измерения*PURITY CONCEPT X: технология на основе рентгеновского излучения
PURITY CONCEPT V: технология на основе оптических линейных датчиков
Область примененияГранулы, хлопья, пленка/ленты, листы и изделия, изготовленные методом литья под давлением
Обнаруживаемые дефектыPURITY CONCEPT X: металлические, неоднородные, перекрестные загрязнения
PURITY CONCEPT V: загрязнения и включения черного цвета в прозрачных материалах, а также, в непрозрачных материалах и загрязнения с изменением цвета
Наименьший размер обнаруживаемого дефектаX-ray: 50 мкм (куб 3D), 50 x 50 x 50 мкм
Оптика: 50 мкм (квадрат 2D), 50 x 50 мкм
Допустимая температура окружающей среды/Температура гранулы+10 – + 40 °C
ИнтерфейсыUSB
Опционально: LAN
Источник питанияPURITY CONCEPT X: 230 V AC (alternativ 100 V AC oder 115 V AC) ± 10%, 50/60 Hz
PURITY CONCEPT V: 100 - 240 V AC ± 10 %, 50/60 Hz
ГабаритыPURITY CONCEPT X: 1309 x 831 x 1882 мм (без направляющих роликов)
PURITY CONCEPT V: 1090 x 575 x 921 мм
(ширина x высота x глубина)