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PURITY SCANNER 和 PURITY SCANNER ADVANCED 都是顺应塑料市场的最新需求而量身定制。这两款设备都能够持续控制材料质量,消除因为材料污染而造成的损耗,为用户提供一个稳定的生产环境,从而让产品拥有有力的竞争优势。
 

PURITY SCANNER/ADVANCED

SIKORA 推出了PURITY SCANNER。这是一个令人印象深刻的检测系统,它智能化的结合了 X 射线测量系统与光学检测系统的优势,并且在对颗粒进行杂质检测的同时能自动筛除含杂质的颗粒。

这两项技术的结合应用具有突破性,其性能超越了目前市场上现有的其它技术方案。由于采用了独特的 X 射线检测技术,PURITY SCANNER 是第一个可以检测透明和有色(比如黑色)颗粒中的杂质并进行自动分拣的检测系统。
 
PURITY SCANNER ADVANCED 通过将 X射线技术与光学技术相结合的方式, 检测颗粒内部与表面的污染。值得一提的是该设备配备有灵活的自适应成像系统,根据杂质的类型以及应用领域的不同,系统会自动选择其相应的成像系统 – 最多可以有5个成像系统同时使用。
 
 
PURITY SCANNER/ADVANCED 性能特点

  • 完全的在线杂质颗粒及自动筛除
  • X射线、光学及彩色成像系统检测技术(PURITY SCANNER ADVANCED)
  • 可对检测颗粒表面及内部小到50 μm的金属、有机污染物以及交叉污染颗粒杂质进行检测
  • 密闭式检测系统,有效阻隔灰尘
  • 易于安装入新的和现有的生产线

 
 

显示和分析

专业的数据分析管理
在配备专业的数据分析管理(PDAM)系统的情况下,可实现对检出污染颗粒的统计评估。分析结果可按检测到的杂质颗粒的成像系统(光学、彩色或X射线成像系统)进行分类。所有的数据可自动保存为 EXCEL格式和影像文件格式,并与时间和生产批号一一对应。在生产线上,专业的数据分析管理(PDAM)系统易于操作,无需额外的用户界面。