LUMP 2000
表面缺陷检测系统
LUMP 2000 系列是用于检测双轴或三轴表面缺陷的杰出测量设备。
LUMP 2000 设备的核心当归于其创新的双传感器技术,它可以在所有线速度下检测到极小的鼓包和凹陷。
该系统采用了功能强大的信号处理器,对表面缺陷的高度、深度和长度的数值进行识别、显示并存储。LUMP 2000 采用了红外光源和双传感器技术(差异化测量原理),即使在极端的生产条件下,例如粉尘较多的生产环境或被测物体剧烈抖动的情况,也能够确保检测的高度可靠性。
仪器型号 | LUMP 2010 XY | LUMP 2025 XY |
---|---|---|
被测物体外径范围 | 0.5 - 10 mm | 0.5 - 25 mm |
最小缺陷长度 | 0.5 mm | 0.5 mm |
速度范围 | 1 - 3,000米/每分钟 | 1 - 3,000米/每分钟 |
尺寸规格 (宽x高x深) | 140 x 140 x 55 mm | 258 x 218 x 70 mm |
工作电源 | 100 - 240 V AC ± 10 %, 50/60 Hz | 100 - 240 V AC ± 10 %, 50/60 Hz |
温度范围 | +5 - +50°C | +5 - +50°C |
通讯接口 | 标配:RS485串口、RS232诊断接口 选配:模拟量输入(鼓包/凹陷公差设定)、其它工业现场总线接口,如Profinet IO、EtherNet/IP、Profibus-DP、CANopen、DeviceNet | 标配:RS485串口、RS232诊断接口 选配:模拟量输入(鼓包/凹陷公差设定)、其它工业现场总线接口,如Profinet IO、EtherNet/IP、Profibus-DP、CANopen、DeviceNet |
LUMP 2000 T 系列的三轴表面缺陷检测仪可以保证 50% 以上的产品表面覆盖,为产品的表面缺陷检测提供更多的可能、更为精确的检测结果。因此,该系统是产品缺陷检测的首选。
*对于透明材料的LUMP 2010 T的参数相同
**对于0.1 – 0.5mm外径范围的鼓包检测请参考光纤测量设备
仪器型号 | LUMP 2010 T* | LUMP 2035 T |
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被测物体外径范围** | 0.25 - 10 mm | 0.5 - 35 mm |
最小缺陷长度 | 0.5 mm | 0.5 mm |
速度范围 | 1 - 3,000米/每分钟 | 1 - 3,000米/每分钟 |
尺寸规格 (宽x高x深) | 250 x 150 x 62.5 mm | 360 x 290 x 38.5 mm |
工作电源 | 100 - 240 V AC ± 10 %, 50/60 Hz | 100 - 240 V AC ± 10 %, 50/60 Hz |
温度范围 | +5 - +50°C | +5 - +50°C |
通讯接口 | 标配:RS485串口、RS232诊断接口 选配:模拟量输入(鼓包/凹陷公差设定)、其它工业现场总线接口,如Profinet IO、EtherNet/IP、Profibus-DP、CANopen、DeviceNet | 标配:RS485串口、RS232诊断接口 选配:模拟量输入(鼓包/凹陷公差设定)、其它工业现场总线接口,如Profinet IO、EtherNet/IP、Profibus-DP、CANopen、DeviceNet |