Un processeur de signal puissant détecte la hauteur, la profondeur et la longueur d’un défaut, le visualise numériquement et enregistre les données. La combinaison de la technologie à double capteur (principe de mesure différentiel) avec les sources lumineuses infrarouges permet au LUMP 2000 de détecter avec fiabilité les défauts, même dans des conditions difficiles telles que les vibrations extrêmes.

Avec leur surveillance à 3 axes, qui garantit une couverture supérieure de 50 % de la surface du produit, les appareils SIKORA LUMP 2000 T offrent une probabilité de détection de nœuds et de rétrécissements encore plus élevée. Ces modèles T sont par conséquent spécialement recommandés pour la détection de défauts ponctuels.