Bewusst in den Schatten gestellt

Als Hersteller und weltweiter Lieferant innovativer Mess-, Regel- und Prüfgeräte für die Industrien Draht und Kabel, Rohr und Schlauch, Metall sowie Glasfaser und Glasfaserkabel bietet SIKORA Systeme für verschiedene Anwendungsbereiche, wie zur Durchmessermessung zur Qualitätskontrolle .

Beugungsbasiertes Durchmessermessverfahren

Das Messprinzip der SIKORA LASER Series 2000 und LASER Series 6000 basiert auf der Beugungsanalyse. Dazu wird ein hochaufgelöster fächerförmiger Laserstrahl direkt auf eine CCD-Zeile gerichtet. Auf dem Zeilensensor entsteht ein Schattenbild des Produkts. An den Übergängen von dunkel zu hell zeigen sich Intensitätsschwankungen, bedingt durch die Brechung des Lichts an den Oberflächen des Messguts. Basierend auf der Theorie der Beugung des Lichtes werden aus den Informationen der Intensitätsschwankungen die Tangenten der linken und rechten geometrischen Schattengrenzen berechnet. Zusammen mit den Tangenten der um 90 Grad versetzten Messebene ergeben sich vier Tangenten, die das Messgut berühren. Damit ist der Durchmesser unabhängig von dessen Position im Messfeld mit einer Genauigkeit im Submikrometerbereich bestimmt.

Die SIKORA Messmethode arbeitet berührungslos mit einer extrem kurzen Belichtungszeit und erreicht sehr hohe Einzelwertgenauigkeiten, die wichtig zur Bestimmung der Standardabweichung des Produktionsprozesses sind. Mehrere Tausend Messungen pro Achse und Sekunde bei Produktdurchmessern von 0,05 bis 500 mm sind möglich. Messgeräte mit dem CCD-Zeilensensorverfahren erfassen den Durchmesser sowohl transparenter als auch intransparenter Produkte in zwei oder drei Ebenen und arbeiten unabhängig vom eingesetzten Messgut stets exakt.

Zusätzlich zu klassischen Durchmessermessköpfen auf der Basis von Laser-Technologie umfasst das SIKORA Portfolio Systeme, die neben der Messung des Durchmessers auch zuverlässig die Wanddicke und Exzentrizität messen. Dazu zählen das CENTERVIEW 8000, das X-RAY 6000 PRO und das X-RAY 8000 ADVANCED/NXT. Die Systeme basieren auf optischen-induktiven sowie Röntgen-Messverfahren.